Microfocus рентгеновского тестирования системы HT100

X-Ray инспекции системы

 

SAM является высокое разрешение рентгеновской системы, предназначенной для решения инспекции потребности BGA, CSP, Flip Chip, полупроводников и многослойные платы регистрацию. SAM создал HT на процесс развития, процесс мониторинга и постоянную поддержку переделок и ремонта функции.

SM является "партия" или ручной тип рентгеновской системы, она включает в себя окна на основе рабочей станции с несколькими функций обработки изображений для реального времени измерения и сбора данных. SAM объединены простота использования, высокое качество изображения и низкой цене в разработке и внедрении HT100

 

  Характеристики системы

 

1, до 100 кВ, 130KV, 5 микрон (типичные) фокусного пятна рентгеновской трубки производства 125X геометрическим увеличением, а также оптический зум для дополнительного увеличения 600X.

2, поле зрения range1.5mm до 50 мм (типовое значение) (.05 "до 2")

3, лазерный указатель для визуальной корреляции.
4, Zaxis контролем рентгеновского источника (FOV и увеличение контроля).
5, Zaxis движения детектор рентгеновского излучения (FOV и увеличение контроля).

 

Физические размеры системы позиционирования

Размеры: Высота: 69 "(с антенной 80") W: 56 "L: 45".
Вес: 700 кг (17001bs).
Высота таблицы нагрузки: 900 мм (36 ").
  Моторизованный XY позиционирование, общая площадь сканирования: 450mmx400mm (18 "х 16").
Моторизованная оси Z позиционирование рентгеновской трубки.
Переменные оси Z позиционирования детектор рентгеновского излучения
 

 

 

X-Ray Tube Технические характеристики Технические характеристики ЭОП

  Энергетика: 0 - C 100 кВ (80 и 100кВ вариантов)
   Мощность: 10 Вт
   Размер фокусного пятна: 5-10 микрон (7 микрон типичный)
   Рентгеновская трубка Стиль: Запечатанные трубки с конца дизайне окна
    Тип детектора: 4/2 "Dual усилитель изображения поля
   Камера: CCD соотношение 6:1 с зум-объективом и диафрагмой (опция).